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    首頁    角度衍射測量    KXR-4100系列雙轉角晶片測角機
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    KXR-4100系列雙轉角晶片測角機

    用于雙轉角石英晶片的角度測量。

    主要特點

     

    1. 采用低功率X射線源實現雙轉角晶片角度的精確測量。

    2. 可根據用戶指定的轉角范圍進行產品定制。

    3. 可根據用戶指定的晶片規格提供自動分類方案。

     

    統計功能

     

    —動態中心值指示

    —動態標準偏差值指示

    —測量數據列表顯示

    —模擬分選統計

     

    測量模式

     

    放置一個晶片,自動整理,自動掃描測量。


    技術參數

     

    KXR-4100

    Φ:18°30′0″- 26°00′0″

    θ:33°15′0″- 34°30′0″

    KXR-4102

    Φ:0°0′0″- 8°30′0″

    θ:34°15′0″- 35°45′0″

    外形尺寸(長寬高)

    725*715*1450mm

    重量

    198kg

    屏幕

    8英寸觸控屏

    輸入電源

    220V±10%,50-60Hz,0.65A

    輸入氣源

    0.5MPa,20L/min潔凈氣源

    衍射方式

    二級衍射 

    光路調整方式

    可控光軌調整裝置

    操作方式

    人工置片,自動整理±X方向辨識測量和分類

    靜態重復性測試標準偏差

    約3″(10次,不同角度晶片會有差異)

    可測量晶片規格

    X向:12-40mm,Z向:12-40mm

    數據呈現

    實時提供每片數據;數據以統計表  形式顯示在觸控屏上

    數據輸出

    提供以太網傳輸接口、SD卡 

     

     

     

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